成圖像與像素級缺陷標簽,即使在有限的數據集上也能工作,為AI在復雜工業(yè)環(huán)境中的應用開辟了新的可能。
Defect-Gen具體通過兩個關鍵方法提高圖像的多樣性和質量:一是使用Patch級建模,二是限制感受野。
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