決當(dāng)前數(shù)據(jù)集中缺陷樣本不足的問題,通過利用極少量的工業(yè)缺陷數(shù)據(jù)生成圖像與像素級缺陷標(biāo)簽,即使在有限的數(shù)據(jù)集上也能工作,為AI在復(fù)雜工業(yè)環(huán)境中的應(yīng)用開辟了新的可能。
Defect-Gen具體通過
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